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提升汽车电子部件的性能和可靠性：SIR表面绝缘电阻测试
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离子迁移检测仪——CAF试验
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不少中小电子制造企业只做通断、功能测试，没有配置PCB可靠性测试系统，电路板潜在绝缘衰减、焊点微裂纹缺陷无法提前暴露。电路板在出厂检测时全部合格，但装车、装机之后，经历高温高湿、冷热交替环境，陆续出现漏电、偶发短路、信号不稳定故障
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开展PCB可靠性验证，往往需要同时放置数十甚至上百片PCB试样，同步监控SIR、CAF、RTC多类参数，长时间试验动辄上千小时，海量测试数据的采集、存储、追溯、导出成为巨大难题。传统方案采用单台仪器搭配人工定时记录，人工记录间隔大
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